上海精虹海科公司代理的美国ILT ILT2400 SED005/WBS320/W紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统:
紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统的研究
光学分析的10多个进制单位的动态范围
Pico-ammeter:10fA至1mA（从100fA至1mA校准）
无线通信:内置
用户控制或自动:范围、规零/暗零、采样率
4-20 mA输出
15针D Sub和SMA输入端口
“Set it & Forget It”远程数据记录
电源:USB或内置充电电池组
多系统同时连续监测
包括DataLight II软件和Labview采样代码
NIST可追溯/ISO17025认证校准
采样率高达100 Hz，可编程
美国ILT ILT2400 SED005/WBS320/W紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统描述:
紫外敏感危害探测器设计为在250至400 nm的宽紫外波段上具有高灵敏度，用于紫外敏感危害研究
测量
测量范围:2.33e-8至2.33e+0 W/cm2
光谱范围:250–400 nm
配置:ILT5000*，SED005/WBS320/W（探头）
*包括软件
应用:该检测器经过特殊配置，可准确测量穿过UV波段的宽波部分，用于总UV灵敏度危险监测。
滤光片和输入光学元件是可拆卸的，可以与探测器组件分开购买，以允许滤光片和输入光学元件互换。